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SHIMADZU材料試驗(yàn)硬度試驗(yàn)機(jī)MCT系列微壓縮試驗(yàn)機(jī)MCT-510概要

更新時(shí)間：2024-04-23

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SHIMADZU材料試驗(yàn)硬度試驗(yàn)機(jī)MCT系列微壓縮試驗(yàn)機(jī)MCT-510概要

用于液晶隔板導(dǎo)電性微粒陶瓷等微小材料的壓縮強(qiáng)度評(píng)價(jià)

島津微壓縮試驗(yàn)機(jī)MCT系列是用金剛石壓盤(pán)對(duì)試樣施加負(fù)荷，實(shí)時(shí)測(cè)定試驗(yàn)力和壓縮位移的關(guān)系的試驗(yàn)機(jī)。

可以對(duì)各種微小零件、粉體加工品中的微小粒子、或新素材相關(guān)的微細(xì)纖維的每一粒進(jìn)行強(qiáng)度評(píng)價(jià)。作為

特別系統(tǒng)，備有壓縮中的觀(guān)察、壓縮時(shí)的電阻測(cè)量、高溫狀態(tài)下的測(cè)量等系統(tǒng)。

有低試驗(yàn)力型(試驗(yàn)力范圍9.8~4903mN )、高試驗(yàn)力型(同9.8~1961mN )、高分辨率型(位移范圍0.001μm
~10μm )和大范圍測(cè)量型(同0.01μm~100μm )系列
標(biāo)配試樣大小測(cè)量功能，可對(duì)被試驗(yàn)材料進(jìn)行強(qiáng)度評(píng)估。
試料被壓縮的情況也是可以觀(guān)測(cè)的(可選的)。
也可以支持在PC畫(huà)面上進(jìn)行測(cè)長(zhǎng)、導(dǎo)電性微粒的電阻測(cè)量裝置、在50℃~250℃加熱試樣的狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn)
的系統(tǒng)。
可從橫向觀(guān)察壓縮中試樣的變形狀態(tài)(可選)。

微粒子の圧縮試験

液晶間隔物、導(dǎo)電性微粒、陶瓷、微小部件、陶瓷粒子、金屬微粉末、金屬機(jī)械、樹(shù)脂粒子、微膠囊、微細(xì)纖維、塑料、精密部件

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