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適用于D,F(xiàn),G,J,K級,晶片,晶圓,引腳型電阻的區(qū)分機,編帶機的電阻檢測計
AE·MIC AEMIC CORPORATION驚 異的超高速.高精度 數(shù)位 電阻檢測計
AE-162D 超高速高精度數(shù)位電阻檢測計
最的適合用于:D,F(xiàn),G,J,K級,晶片,晶圓,引腳型電阻的區(qū)分機,編帶機
超高速:0.7msec(代表值)
消除熱電動勢的測量影響.達到高精度高穩(wěn)定度
邏輯電路與數(shù)字電路隔離絕緣,通過耐雜訊提高高穩(wěn)定度
每范圍通過測量值積分時間設(shè)定功能,達到超高速高穩(wěn)定測量■絕對值測量:0.00mΩ~200.00MΩ%測量:5mΩ~109MΩ[±99.99%]
接觸·檢查選擇:測量前/測量后/OFF (不接觸)
RS-232C介面為標(biāo)準(zhǔn)配備[可選購GP-IB ]
印表機輸出為標(biāo)準(zhǔn)配備(符合Centronics)
設(shè)定數(shù)據(jù)傳送功能為標(biāo)準(zhǔn)配備(可把一臺機的設(shè)定數(shù)據(jù)發(fā)到另一臺機上)
檢查測量電流/電壓是否異常的電路為標(biāo)準(zhǔn)配備
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GP -I B介面/電磁電源DC 24V / 1A/數(shù)據(jù)傳輸線
規(guī)格&參數(shù)
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測量範(fàn)圍及基本精度(at23℃ ± 5℃),校正後1年
量程 | 標(biāo)準(zhǔn)值設(shè)定範(fàn)圍 | 測量電流 | 測量精度 | |
SLOW | FAST | |||
100mΩ | 5mΩ~100mΩ | 100mA | ±0.02% ± 2α ± 2d以內(nèi) | ±0.03% ± 3α ± 2d ± [ 2/(1+n) ]d以內(nèi) |
1Ω | 100.1mΩ~1Ω | 100mA | ±0.02% ± α ± 1d以內(nèi) | ±0.02% ± α ± 2d ± [ 2/(1+n) ]d以內(nèi) |
10Ω | 1.001Ω~10Ω | 50mA | ||
100Ω | 10.01Ω~100Ω | 10mA | ±0.02% ± 1d以內(nèi) | ±0.02% ± 2d ± [ 1/(1+n) ]d以內(nèi) |
1kΩ | 100.1Ω~1kΩ | 5mA | ||
10kΩ | 1.001kΩ~10kΩ | 0.5mA | ||
100kΩ | 10.01kΩ~100kΩ | 50μA | ||
1MΩ | 100.1kΩ~1MΩ | 5μA | ±0.05% ± 2d ± [ 1/(1+n) ]d以內(nèi) | |
10MΩ | 1.001MΩ~10MΩ | 0.5μA | ±0.03% ± 1d以內(nèi) | ±0.2% ± 4d ± [ 1/(1+n) ]d以內(nèi) |
100MΩ | 10.01MΩ~109MΩ | 0.05μA | ±0.1% ± 2d以內(nèi) | ---- |
d:digits,n:積分時間(msec.)百分比測量時:α=(100 /標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定值mΩ) × 0.01%
對值測量時:α= 0 (±1d)[ FAST ]測試時精度需要測試線完的全的屏蔽
測試 時間 | 外部觸發(fā) | 空運行 | ||
SLOW | FAST | SLOW | FAST | |
約18msec~400msec | 約0.7msec.~400 msec. | 約30次/秒~ 2次/秒 | 約60次/秒~ 2次/秒 |
測量結(jié)束信號(EOC)脈衝寬度 | 1~250msec.能連續(xù)設(shè)定 |
測量方式 | 4端子/ 2端子 測量轉(zhuǎn)換 |
判斷值設(shè)定範(fàn)圍 | %測量:±99.99% |
使用周圍環(huán)境 | 溫度:0℃~+50℃,濕度:80%以下 |
所要電源 | AC85V~265V,50~60Hz,約50VA |
外形尺寸 | 約333(W)×99(H)×300(D)mm (不含有橡膠腳等的突起物。) |
重量 | 約3.8kg |