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日本oklabCPM/PDS綜合測(cè)量裝置干擾測(cè)量OKL-CPM/PDS-500型恒定光電流法 (CPM) 和光熱偏轉(zhuǎn)光譜法 (PDS) 可用于子帶隙光吸收系數(shù)測(cè)量。由于可以計(jì)算缺陷密度,因此可以應(yīng)用于太陽(yáng)能電池薄膜的性能改進(jìn)和開(kāi)發(fā)
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日本oklabCPM/PDS綜合測(cè)量裝置干擾測(cè)量OKL-CPM/PDS-500型
日本oklabCPM/PDS綜合測(cè)量裝置干擾測(cè)量OKL-CPM/PDS-500型
恒定光電流法 (CPM) 和光熱偏轉(zhuǎn)光譜法 (PDS) 可用于子帶隙光吸收系數(shù)測(cè)量。
由于可以計(jì)算缺陷密度,因此可以應(yīng)用于太陽(yáng)能電池薄膜的性能改進(jìn)和開(kāi)發(fā)
使用我們的 CPM 測(cè)量方法,可以抑制干擾并計(jì)算準(zhǔn)確的缺陷密度。
PDS 可以測(cè)量高達(dá) 0.4[eV] 的長(zhǎng)波長(zhǎng)
集成 CPM 和 PDS 的緊湊型經(jīng)濟(jì)型
測(cè)量是全自動(dòng)的,沒(méi)有麻煩
我們的 CPM/PDS 組合測(cè)量設(shè)備型號(hào) OKL-CPM/PDS-500 結(jié)構(gòu)緊湊,因此可以用一臺(tái)設(shè)備測(cè)量 CPM 和 PDS。我們CPM測(cè)量的特點(diǎn)是采用透射光測(cè)量法,采用了排除膠片干擾影響的方法。
因此,可以計(jì)算出準(zhǔn)確的缺陷密度。此外,PDS除了可見(jiàn)光之外,還有紅外光譜光柵,因此可以在長(zhǎng)波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量。安裝樣品池的工作臺(tái)配備了振動(dòng)隔離功能,因?yàn)樵跍y(cè)量過(guò)程中不需要振動(dòng)。所有測(cè)量都是計(jì)算機(jī)控制的自動(dòng)測(cè)量。
使用我們的 CPM 測(cè)量方法,可以抑制干擾并計(jì)算準(zhǔn)確的缺陷密度。
PDS 可以測(cè)量高達(dá) 0.4[eV] 的長(zhǎng)波長(zhǎng)
集成 CPM 和 PDS 的緊湊型經(jīng)濟(jì)型
測(cè)量是全自動(dòng)的,沒(méi)有麻煩
我們的 CPM/PDS 組合測(cè)量設(shè)備型號(hào) OKL-CPM/PDS-500 結(jié)構(gòu)緊湊,因此可以用一臺(tái)設(shè)備測(cè)量 CPM 和 PDS。我們CPM測(cè)量的特點(diǎn)是采用透射光測(cè)量法,采用了排除膠片干擾影響的方法。
因此,可以計(jì)算出準(zhǔn)確的缺陷密度。此外,PDS除了可見(jiàn)光之外,還有紅外光譜光柵,因此可以在長(zhǎng)波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量。安裝樣品池的工作臺(tái)配備了振動(dòng)隔離功能,因?yàn)樵跍y(cè)量過(guò)程中不需要振動(dòng)。所有測(cè)量都是計(jì)算機(jī)控制的自動(dòng)測(cè)量。