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peritec電磁噪聲評(píng)估 電磁干擾測(cè)試儀EMV-150的介紹Peritec 的 EMI 測(cè)試儀可高精度自動(dòng)測(cè)量電子設(shè)備產(chǎn)生的電場(chǎng)和磁場(chǎng)的噪聲分布。高精度的可動(dòng)工作臺(tái),即使PCB、IC等具有復(fù)雜的凹凸形狀,也能自動(dòng)追蹤其形狀,并進(jìn)行高靈敏度的測(cè)量。測(cè)量數(shù)據(jù)通過(guò)各種 3D 圖形可視化
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peritec電磁噪聲評(píng)估 電磁干擾測(cè)試儀EMV-150的介紹
peritec電磁噪聲評(píng)估 電磁干擾測(cè)試儀EMV-150的介紹
自動(dòng)拐杖尖機(jī)構(gòu)
即使被測(cè)物體具有復(fù)雜的不平度,磁場(chǎng)探頭也能通過(guò)自動(dòng)追蹤功能自動(dòng)追蹤近距離,實(shí)現(xiàn)高靈敏度和高分辨率的測(cè)量。
■ 圖形顯示
測(cè)量數(shù)據(jù)以各種3D 圖形可視化。
Peritec 的 EMI 測(cè)試儀可高精度自動(dòng)測(cè)量電子設(shè)備產(chǎn)生的電場(chǎng)和磁場(chǎng)的噪聲分布。
高精度的可動(dòng)工作臺(tái),即使PCB、IC等具有復(fù)雜的凹凸形狀,也能自動(dòng)追蹤其形狀,并進(jìn)行高靈敏度的測(cè)量。
測(cè)量數(shù)據(jù)通過(guò)各種 3D 圖形可視化測(cè)量數(shù)據(jù)以各種3D 圖形可視化。
物品 | EMV-100 | EMV-150 | EMV-200 | ||
活動(dòng) 桌 | 工作 范圍 | X/Y軸 | 170mm | 370mm | 300mm |
Z軸 | 100mm | 230mm | |||
θ軸 | -100 至 +230° 度。 | ±360°度。 | |||
定位 精度 | X/Y軸 | ±0.05mm | |||
Z軸 | ±0.05mm | ||||
θ軸 | ±1°度。 | ||||
外形尺寸(寬×深×高) | 387×405×735mm | 617×605×735mm | 565×680×1003mm | ||
重量 | 20公斤 | 40公斤 | 97公斤 | ||
集成控制 控制器 | 控制電腦 | Microsoft Windows 7 (與 Microsoft Windows 10 兼容) | |||
軟件 | 控制程序EMVm5 | 控制程序EMVL5 | 控制程序EMV5 | ||
軟件 選項(xiàng) | 應(yīng)用程序接口 | ||||
電源 | 交流電源輸入 | 交流電 100-230V,50Hz/60Hz | |||
能量消耗 | 最大 0.5 kVA | 最大 1.0 kVA | |||
選項(xiàng) | 測(cè)量?jī)x器 | 頻譜分析儀(各公司) | |||
天線(xiàn) | 電場(chǎng)天線(xiàn) W07E 磁場(chǎng)天線(xiàn) W07 其他 | ||||
前置放大器 | 100MHz 至 6GHz,NF=2.5dB,GAIN=36dB 等 | ||||
屏蔽盒 | 根據(jù)測(cè)試儀型號(hào)有專(zhuān)用的屏蔽盒。 |