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EC-80P是由日本Napson公司推出的手持式渦電流非接觸式量測設備。
2023-11-27napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻 電阻率NC-80MAP的介紹多種非接觸式探頭的寬量程電阻測量儀(可根據(jù)要求更改探頭數(shù)量和探頭類型)可從 8mm 邊緣進行多點測量非接觸式渦流法可實現(xiàn)無損傷測量測量模式可編程和 2-D/3-D 映射軟件*選項:額外安裝晶圓厚度測量探頭
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napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻 電阻率NC-80MAP的介紹
napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻 電阻率NC-80MAP的介紹
多種非接觸式探頭的寬量程電阻測量儀
(可根據(jù)要求更改探頭數(shù)量和探頭類型)
可從 8mm 邊緣進行多點測量
非接觸式渦流法可實現(xiàn)無損傷測量
測量模式可編程和 2-D/3-D 映射軟件
*選項:額外安裝晶圓厚度測量探頭
半導體/太陽能電池材料(硅、多晶硅、SiC等)
新材料/功能材料(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)
導電薄膜(金屬、ITO等)
硅基外延、 ion Injection sample
化合物半導體相關(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)
其他(*請聯(lián)系我們)
2 至 8 英寸
(可選;12 英寸)
[電阻率] 1m 至 200 Ω?cm
(*所有探頭類型的總范圍/當厚度為 500um 時)
[薄層電阻] 10m 至 3k Ω/sq
(*所有探頭類型的總范圍)
*請參閱以下各探頭類型的測量范圍。
(1) 低:0.01 ~ 0.5Ω/□ (0.001 ~ 0.05Ω-cm)
(2) 中: 0.5 ~ 10Ω/□ (0.05 ~ 0.5Ω-cm)
(3) 高:10 ~ 1000Ω/square (0.5 ~ 60Ω-cm)
(4) S-High : 1000 to 3000Ω/square (60 to 200Ω-cm)